Keysight ermöglicht dynamische Tests von Bare-Chips eines Wide-Bandgap-Leistungshalbleiters

Einfache und genaue Messung der dynamischen Eigenschaften eines Wide-Bandgap-Leistungshalbleiter-Chips ohne Löten oder Messnadeln

Böblingen, 18. März 2025 – Keysight Technologies hat sein Portfolio für Doppelpulstests erweitert, sodass Anwender von der genauen und einfachen Messung der dynamischen Eigenschaften von ungehäusten Wide-Bandgap (WBG) Leistungshalbleiter-Chips profitieren können. Die in der Messvorrichtung implementierten Technologien minimieren parasitäre Effekte und erfordern kein Anlöten des Bare Chips. Die Halterungen sind mit beiden Versionen der Doppelpulstester von Keysight kompatibel. WBG-Leistungsbauteile sind entscheidend für den Aufbau hocheffizienter und robuster Leistungselektronik für Anwendungen wie Elektrofahrzeuge, alternative Energien und Rechenzentren. Sie werden in verschiedenen Formen verwendet, z. B. als diskrete, gehäuste Bauteile oder als Leistungsmodule, die ungehäuste Leistungshalbleiter-Chips enthalten. Die Charakterisierung des Bare Chips vor dem Packaging beschleunigt die Entwicklung. Die Messung der dynamischen Eigenschaften eines ungehäusten Leistungshalbleiter-Chips mit herkömmlichen Methoden erfordert jedoch das direkte Auflöten des Bare Chips, bevor Tests durchgeführt werden können. Das ist nicht nur schwierig, sondern kann auch zu parasitären Effekten führen, die wiederum Fehler in die Messungen einbringen. Die neue Keysight-Lösung für die dynamische Messung von nackten Chips unterstützt Entwickler von Leistungshalbleiter-Bauteilen und Leistungselektronik bei der dynamischen Charakterisierung, sobald ein Chip aus einem Wafer herausgetrennt wird. Das innovative Design der Halterung ermöglicht eine schnelle Aufnahme von Bare Chips und bietet ausreichenden elektrischen Kontakt, während gleichzeitig verhindert wird, dass ein kleiner und empfindlicher Bare Chip einen Lichtbogen schlägt oder beschädigt wird. Die einzigartige Struktur der Halterung, die ohne Tastköpfe, Drahtbonding oder Löten auskommt, minimiert parasitäre Effekte in der Testschaltung und erzeugt saubere Signale für schnell arbeitende WBG-Leistungshalbleiter-Bauteile. Thomas Götzl, Vice President und General Manager für Keysight Automotive & Energy Solutions, sagte: „Mit der Einführung der neuen WBG-Halbleiter-Bare-Chip-Evaluierungsmethode helfen wir der Industrie, die Entwicklung von hocheffizienten und robusten diskreten Leistungshalbleiter-Bauteilen und Leistungsmodulen zu beschleunigen. Die dynamische Charakterisierung von Bare-Chip-Halbleitern, die früher als fast unmöglich galt, ist jetzt mit der Erweiterung unseres Leistungshalbleiter-Testportfolios möglich.“ Weitere Informationen Produktseite: Dynamic Power Device Analyzer/Doppelpulstester Keysight PD1500A Produktseite: Advanced Dynamic Power Device Analyzer/Doppelpulstester Keysight PD1550A White-Paper: „Dynamic Characterization of a Power Semiconductor Bare Chip“

Über Keysight Technologies Bei Keysight inspirieren und befähigen wir Innovatoren, weltverändernde Technologien in die Tat umzusetzen. Als S&P 500-Unternehmen liefern wir marktführende Design-, Emulations- und Testlösungen, die Entwicklern helfen, schneller und mit weniger Risiko zu entwickeln und einzusetzen, und zwar über den gesamten Produktlebenszyklus hinweg. Wir sind ein globaler Innovationspartner, der es Kunden in den Bereichen Kommunikation, Industrieautomation, Luft- und Raumfahrt sowie Verteidigung, Automotive, Halbleiter und allgemeine Elektronik ermöglicht, Innovationen zu beschleunigen, um die Welt zu vernetzen und sicherer zu machen. Erfahren Sie mehr unter www.keysight.com.