Ab sofort lieferbar: I-scope Probe von IAR Systems für Echtzeitmessung von Stromstärke und Spannung
Neue Probe erleichtert Low-Power-Entwicklung mit erweiterter Technologieplattform für Power Debugging
Uppsala, Schweden – 23. April 2013 – Ab sofort ist die neueste Erweiterung zu IAR Systems’ innovativer Power Debugging-Technologie lieferbar: Die Probe I-scope erweitert die Möglichkeiten zu Power-Optimierungen der IAR Embedded Workbench. Bei der Nutzung zusammen mit der In-Circuit Debugging-Probe I-jet von IAR Systems erlaubt I-scope dem Nutzer, durch bessere Kenntnis der Stromaufnahme einzelner Module und die Identifizierung von Fehlern im Code, die eine unnötige Stromaufnahme verursachen, seine Anwendung hinsichtlich Stromaufnahme zu optimieren und die Laufzeit der Batterie zu verlängern.

Die Power Debugging-Technologie liefert Entwicklern Informationen darüber, wie die Software-Implementierung eines Embedded Systems die Stromaufnahme des Systems beeinflusst. Die Technologie ist im C-SPY-Debugger der IAR Embedded Workbench integriert und in Verbindung mit dem I-jet nutzbar. I-scope kann an jedem Punkt eines Zielboards Stromstärke und Spannung mit einer Auflösung von 12 Bit und einer Sampling-Rate von bis zu 200 kHz messen. Über den I-jet werden die Daten mit dem laufenden Programm-Zähler synchronisiert, in Echtzeit grafisch dargestellt und mit Hilfe des C-SPY-Debuggers analysiert. Die Power-Analyse kann zum Beispiel genutzt werden, um die Stromaufnahme indvidueller Funktionen und Peripherien zu messen, I/O-Aktivitäten zu erkennen, die Stromspitzen verursachen, den Low-Power-Modus zu bestimmen, Stromersparnis durch die Frequenz und der Core-Voltage des Mikrocontrollers zu untersuchen und Konflikte des Hardware-Setups zu identifizieren. Sie kann auch genutzt werden, um Radio Frequency (RF)-Emissionen zu reduzieren, unerwünschte Verbrauchsspitzen zu eliminieren und um den Batterieverbrauch in verschiedenen Sleep-Modi des Mikrocontrollers zu messen und vergleichen.

I-scope ist die neueste Ergänzung zu IAR Systems’ Produktportfolio an In-Circuit Debugging-Probes für einen vereinfachten, nahtlosen und flexiblen Entwicklungs-Workflow. Mit der erweiterten Technologieplattform begegnet IAR Systems der ständig wachsenden Nachfrage der Embedded-Industrie für fortgeschrittenes und effizientes Debugging. Alle Produkte sind vollständig in die umfassende Entwicklungs-Toolsuite IAR Embedded Workbench integriert und werden in Verbindung mit dem anerkannten weltweiten Support von IAR Systems angeboten.

„Auf Seiten der Embedded-Entwickler existiert ein großes Interesse für verbesserte Debugging-Möglichkeiten“, sagt Stefan Skarin, CEO von IAR Systems. „Seit der Ankündigung von I-scope im Februar diesen Jahres gab es ein enormes Interesse aus dem Markt. Wir freuen uns, nun die ersten I-scope Probes an Kunden ausliefern zu können, die schon darauf gewartet haben. Ein Low-Power-Design ist wichtig für viele Anwendungen und wir sind uns sicher, dass unsere Tools für Power-Optimierung ihren Beitrag dazu leisten.”

Die I-scope Probe ist als Erweiterung zum I-jet konzipiert, der Mikrocontroller basierend auf allen ARM-Cores unterstützt. I-jet unterstützt JTAG, Serial Wire Debug (SWD) und Serial Wire Viewer (SWV) durch Nutzung von UART- und Manchester-Codierung sowie Embedded Trace Buffer (ETB). I-scope ist ab sofort bei IAR Systems erhältlich. Mehr Informationen zu I-scope unter www.iar.com/iscope.
Über IAR Systems

IAR Systems ist der weltweit führende Anbieter für Softwaretools zur Entwicklung von Embedded Systems Anwendungen. Die Softwaretools ermöglichen es über 19.000 großen, mittelständischen und kleinen Unternehmen Premium-Produkte basierend auf 8-, 16- und 32-bit Mikrocontrollern zu entwickeln, vor allem in den Branchen industrielle Automation, Medizintechnik, Konsumerelektronik, Telekommunikation und Automotive. IAR Systems verfügt über ein weitreichendes Netzwerk von Partnern und arbeitet mit den weltweit führenden Halbleiterherstellern zusammen. Die IAR Systems Group AP ist an der NASDAQ OMX Stockholm gelistet. Weitere Informationen zu IAR Systems unter www.iar.com.

Hinweis:
IAR Systems, IAR Embedded Workbench, C-SPY, visualSTATE, The Code to Success, IAR KickStart Kit, I-jet, I-scope, IAR und das Logo von IAR Systems sind Markenzeichen bzw. eingetragene Markenzeichen von IAR Systems AB. Alle weiteren Produkte sind Markenzeichen ihrer jeweiligen Eigentümer.
 
 
 
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» Presse-Information
Datum: 23.04.2013 15:00
Nummer: PR 16/13
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Ab sofort lieferbar: I-scope Probe von IAR Systems für Echtzeitmessung von Stromstärke und Spannung
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E-mail: fredrik.medin@iar.com

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